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X荧光镀层测厚仪


X荧光镀层测厚仪

本文地址:http://www.jsgngy.com/readpro.asp?id=1395
文章摘要:X荧光镀层测厚仪,操作方法女儿基本无,闻风响应入常蟠桃会。

产品编号:JM-2668

产品型号:X-Strata980

原产地:英国

X-Strata980 (X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪)

X-Strata980(X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪) The X-Strata980 出色的精准性和长期稳定性,博彩技巧\网上博彩技巧\博彩技巧网站:有效改善生产过程和质量控制:
牛津仪器生产的100瓦X射线管大大提高了灵敏度,实现快速精确的分析
高分辨半导体探测器
通过多个初级滤波器对全元素范围实现最佳的分析效果
多款准直器可供选择,检测样品直径最小达150μm
牛津仪器公司独特的低背景测量板,实现更低的检出下限

X-Strata980 (X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪)特点

电子元件
有效调整生产过程,从而提高生产力
确保元件可靠性
测量焊料合金成份和镀层厚度
优化质量控制,从而确保产品生命周期
分析导电性镀层金和钯的厚度
测量电脑硬盘上的NiP层厚度

五金电镀
电镀处理的成本最小化,产量最大化
快速简单的分析
同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
最多可分析4层(不包括基层)
镀液成份分析

100瓦X射线管
25mm2PIN 探测器
多准直器配置
扫描分析及元素分布成像功能
灵活运用多种分析模型
清晰显示样品合格/不合格
超大样品舱 同时分析元素含量和镀层厚度

这款最新研发的产品X-Strata980 (X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪)运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量,结合大功率X射线光管和高分辨率探测器,检测下限达到PPM精度,并具有超强的分析模型。牛津仪器新产品研发中心总监Dr. Andy Ellis表示,这款新产品的发布标志着牛津仪器已经成为全球唯一的能提供包括便携式、台式(微聚焦、块状分析)XRF分析仪器的供应商,能够为客户提供针对RoHS筛选的完整解决方案。
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。X-Strata980 (X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪)的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。

 
 
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